一、產(chǎn)品簡介

本產(chǎn)品是基于傳統(tǒng)的反應(yīng)堆噪聲分析技術(shù)，結(jié)合現(xiàn)代信號分析處理技術(shù)研制的現(xiàn)場測量次臨界度的系統(tǒng)，通過一個可以定時的中子源驅(qū)動所要測量的核系統(tǒng)，測量源信號和誘發(fā)裂變信號之間的相關(guān)性和功率譜密度，結(jié)合模擬結(jié)果的修正得出核系統(tǒng)的次臨界度（keff）。

本產(chǎn)品可在現(xiàn)場直接測量得到次臨界度，目前國內(nèi)尚沒有可以直接測量keff的方法的空白，特別適用于不能達到臨界的系統(tǒng)。

二、應(yīng)用領(lǐng)域 CL2218型次臨界度測量儀

本系統(tǒng)適用于各種涉及核材料的處理、儲存、運輸過程的臨界安全監(jiān)控和評估，包括金屬和液態(tài)系統(tǒng)、鈾和钚系統(tǒng)。適用于以下多種場景：燃料前處理和處理設(shè)施的監(jiān)控、燃料儲存設(shè)施，乏燃料儲存設(shè)施等。另外本系統(tǒng)可為次臨界基準評估工作提供校驗用實驗數(shù)據(jù)。

三、主要技術(shù)指標 CL2218型次臨界度測量儀

本系統(tǒng)目前在研制階段，已實現(xiàn)了在keff為0.99附近的完整測量，期望達到的指標為：

· keff測量范圍為0.7～0.99。當keff為0.9時，不確定度小于1％；

· 對于液態(tài)系統(tǒng)，最快測量時間達到1min，測量下限可達keff為0.5。

四、產(chǎn)品特點

1、可直接測量次臨界度，不需要系統(tǒng)達到臨界狀態(tài)用來標定；

2、測量結(jié)果與中子源強度和探測器的效率無關(guān)，不需要對測量過程中儀器條件漂移做修正；

3、測量對象適用范圍廣，包括均勻和非均勻系統(tǒng)，連續(xù)和分立陣列系統(tǒng)，金屬和溶液系統(tǒng)，以及帶各種反射層材料的系統(tǒng)。